適用製品
電子顕微鏡によるナノ粒子の直接的な同定・定量のための検出キットおよび方法
目的
観察対象のナノ粒子が既知であるか未知であるかを問わず、電子顕微鏡による直接観察で試料中のナノ粒子を感度よく同定することができるとともに、簡便でありながら迅速かつ正確に定量することができるナノ粒子の検出キットおよび方法を提供する。
効果
観察対象のナノ粒子が既知であるか未知であるかを問わず、電子顕微鏡による直接観察で試料中のナノ粒子を感度よく同定することができるとともに、簡便でありながら迅速かつ正確に定量することができるナノ粒子の検出キットおよび方法が提供される。
技術概要
電子顕微鏡による直接観察で試料中のナノ粒子を同定または定量するための検出キットであって、
表面がマイナス電荷またはプラス電荷にチャージされているプレートと、
試料中のナノ粒子を特異的に標識するための標識剤と、
試料中のナノ粒子を薄膜で覆うための電子顕微鏡観察用保護剤とを具備することを特徴とする検出キット。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
