適用製品
サンプリング方法やサンプリングのためのシステム
目的
低速サンプリングを行っても，光位相変動及び高周波信号をとらえ，低コストかつ簡易に被測定信号に対するサンプリング（信号測定）及び解析を実現する。
効果
低速サンプリングを行っても，光位相変動をとらえ，低コストかつ簡易に被測定信号に対するサンプリング（信号測定）及び解析を実現できる。
技術概要
測定対象となる被測定信号の帯域周波数の半分以下の繰り返し周期でメインサンプリングポイントを得る工程と，メインサンプリングポイントとは別にサンプリングを行いサブサンプリングポイントを得る工程と，各サンプリングポイントにおける被測定信号と参照信号の振幅差，位相差及び周波数差を得る工程と，メインサンプリングポイントとサブサンプリングポイントの時間差，振幅差（ΔＡ），位相差（Δφ）及び周波数差（Δｆ）を得る工程と，メインサンプリングポイントとサブサンプリングポイントの時間差（Δｔ），振幅差（ΔＡ），位相差（Δφ）及び周波数差（Δｆ）を用いて，被測定信号の振幅変動，位相変動及び周波数変動を求める工程とを含む。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
