目的
小型で、しかも比誘電率が高い計測対象物であっても、その実効比誘電率、比誘電率を正確に簡便に計測可能とする。
効果
小型で誘電率が高い計測対象物であっても、支持基板上に形成された導線路の一方に、他方の導線路から隔離されるよう配置するだけで、比誘電率を正確かつ簡便に計測・評価することが可能となる。
技術概要
支持基板と、
前記支持基板上に形成された少なくともの２本の導線路であって、互いに交差し、一方に計測対象の誘電体材料が載置されるとともに、他方が前記誘電体材料から隔離されている導線路と、
前記他方の導線路の両端に設けられた、プローブが接続される入力側ポート及び出力側ポートとを備えていることを特徴とする誘電体材料評価装置。
基本情報
開放特許情報
)
登録者情報
その他の情報
