非接触温度測定方法および測定装置

開放特許情報番号:L2015001696 開放特許情報登録日:2015/10/20 最新更新日:2019/10/22

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2015/7/21
公開日
2017/2/2
出願人
国立研究開発法人産業技術総合研究所
特許権者
国立研究開発法人産業技術総合研究所
権利化状況
権利化済
発明の名称
非接触温度測定方法および測定装置
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
機械・部品の製造
適用製品
非接触温度測定方法および測定装置
目的
被測定対象物表面の放射率に依存しない非接触温度測定方法・装置を提供する。
効果
被測定対象物表面の放射率に依存しないで真温度を求めることができるので、従来法より測定精度を飛躍的に向上させることができるとともに、補助熱源(ランプ光源を含む補助放射源)を切り替える必要が無いので高速に移動する被測定対象物にも対応できる。
技術概要
一方向に走行する被測定対象物の走行方向に垂直にスリット状に補助熱源(補助放射源)からの光を投光し、走査型2波長放射温度計にて前記走行方向に被測定対象物表面を一次元走査して測定し、得られた2波長におけるスリット状補助放射源光の暗部と明部の測定輝度から被測定対象物表面の2波長反射光輝度比を求めると同時に、前記走査型2波長放射温度計と同一の2波長にて前記補助放射源の輝度比を測定し、前記被測定対象物表面の2波長反射光輝度比と前記補助放射源の輝度比から2波長反射率比を求め、前記被測定対象物表面の放射率に依存しないで真温度を求めるようにした。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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