軟X線を用いた二次電池オペランド測定用電極

開放特許情報番号:L2014002248 開放特許情報登録日:2014/11/17 最新更新日:2018/6/22

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2014/8/13
公開日
2016/3/24
出願人
国立研究開発法人産業技術総合研究所
特許権者
国立研究開発法人産業技術総合研究所
権利化状況
権利化済
発明の名称
軟X線を用いた二次電池オペランド測定用電極
開放特許情報
技術分野
電気・電子 情報・通信
機能
材料・素材の製造
適用製品
リチウムイオン二次電池電極
目的
リチウムイオン二次電池電極の電気化学オペランド軟X線吸収/発光分光の実現を可能とする、Si↓3N↓4薄膜を用いた薄膜電極を提供する。
効果
本発明により、リチウムイオン電池電極材料の電気化学オペランド軟X線吸収/発光分光が可能となった。電気化学オペランド測定という実環境下で、軟X線吸収/発光分光を用いることで、従来の電子状態解析よりもはるかに豊富かつ正確な情報を得ることが可能となった。このように、本発明によって、様々な電極材料のオペランド電子状態解析が可能となる。
技術概要
Siウェハ/Si↓3N↓4薄膜上に作成された、Al↓2O↓3/Ti/Auという三層構造を有する、電極活物質焼成後にも低抵抗を示す薄膜集電体。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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