半導体装置、インターポーザ及びその製造方法

開放特許情報番号:L2014001666 開放特許情報登録日:2014/9/12 最新更新日:2019/1/30

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2014/6/10
公開日
2015/12/24
出願人
国立研究開発法人産業技術総合研究所
特許権者
国立研究開発法人産業技術総合研究所
権利化状況
権利化済
発明の名称
半導体装置、インターポーザ及びその製造方法
開放特許情報
技術分野
電気・電子
機能
機械・部品の製造
適用製品
半導体装置、インターポーザ及びその製造方法
目的
3次元集積回路において、流路を設けるために半導体チップを厚くすることなく、放熱性に優れた半導体装置、インターポーザ、及びその製造方法を提供する。
効果
本実施形態に係る半導体装置の製造方法によれば、流路を設けるために半導体チップを厚くすることなく、放熱性に優れた半導体装置を製造することができる。
また、本実施形態に係るインターポーザの製造方法によれば、放熱特性の高い3次元集積回路を製造するのに適したインターポーザを製造することができる。
そして、本実施形態に係るインターポーザによれば、冷媒が導入される流路を構成する溝を備えることにより、放熱特性の高い3次元集積回路を製造するのに適したインターポーザを実現することができる。
技術概要
第1面の一部に形成された溝と、前記溝以外の領域において前記第1面と前記第1面の裏面の第2面との間を貫通するビアとを備えるインターポーザと、
前記インターポーザの前記第1面側に搭載された第1半導体チップと、
前記インターポーザの前記溝以外の領域と前記第1半導体チップとの間に設けられ、前記インターポーザと前記第1半導体チップとを接着する接着層と、
を備え、
前記溝及び前記接着層により、前記第1半導体チップに接触する冷媒が導入される流路が形成されている、
半導体装置。
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
固定URLをクリップボードにコピーしました。
Copyright © INPIT Rights Reserved