目的
同じ支持板の径（面積）であっても、より光路長の変化を大きくすることのできる断層測定装置を提供する。
効果
本発明は、断層測定装置及び断層測定方法として産業上の利用可能性があり、同じ支持板の半径（面積）であっても、より光路長の変化を大きくすることのできる断層測定装置及び断層測定方法となる。
技術概要
光を放出する光源と、
前記光源から放出された光を第一の光と第二の光に分割する第一の光分割部材と、
前記第一の光の光路を変化させる光路可変部材と、
前記第一の光と前記第二の光を結合させる光結合部材と、
前記光結合部材により結合した光の振幅を測定する振幅測定部材と、を有し、
前記光路可変部材は、
支持板と、
前記支持板を支持し、かつ回転させる回転支持部材と、
前記第一の光を第三の光と第四の光に分割する第二の光分割部材と、
前記支持板上に配置される支持反射部材と、
前記支持反射部材から反射された前記第三の光を再度前記支持反射部材に入射させる第一の固定反射部材と、
前記支持反射部材から反射された第四の光を再度前記支持反射部材に入射させる第二の固定反射部材と、を有する断層測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
