目的
同じ支持板の半径（面積）であっても、より光路長の変化を大きくすることのできる断層測定装置を提供する。
効果
断層測定装置として産業上の利用可能性があり、本発明によれば、同じ支持板の半径（面積）であっても、より光路長の変化を大きくすることのできる断層測定装置となる。
技術概要
光を放出する光源と、
前記光源から放出された光を第一の光と第二の光に分割する光分割部材と、
前記第一の光の光路を変化させる光路可変部材と、
前記第一の光と前記第二の光を結合させる光結合部材と、
前記光結合部材により結合した光の振幅を測定する振幅測定部材と、を有し、
前記光路可変部材は、
第一の支持板及び第二の支持板と、
前記第一の支持板を回転可能に支持する第一の回転支持部材と、
前記第二の支持板を回転可能に支持する第二の回転支持部材と、
前記第一の支持板に配置された第一の支持反射部材と、
前記第二の支持板に配置された第二の支持反射部材と、
固定反射部材と、を有し、
前記第一の支持反射部材に反射された第一の光が前記第二の支持反射部材に入射及び反射され、
前記第二の支持反射部材に反射された第一の光が前記固定反射部材に入射及び反射され、
前記第一の支持板と前記第二の支持板が反対方向に回転する断層測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
