光学センサの校正方法

開放特許情報番号:L2013001929 開放特許情報登録日:2013/9/23 最新更新日:2017/5/15

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2013/6/13
公開日
2015/1/5
出願人
国立研究開発法人産業技術総合研究所
特許権者
国立研究開発法人産業技術総合研究所
権利化状況
権利化済
発明の名称
光学センサの校正方法
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
制御・ソフトウェア
適用製品
光学センサの校正方法
目的
光学センサの仕様にかかわらず高精度な温度校正を実現することができる光学センサの校正方法を提供する。
効果
本発明によれば、光学センサの温度応答性を校正するために必要な基準放射源として最適な灰色体放射源からの光を用いて光学センサの温度校正を行うことができるため、校正対象とされる光学センサの仕様によらず高精度な温度校正・試験を実現することができる。
技術概要
基準放射源から放射される光の量を減じる割合に応じた中心角を有する回転翼に前記光を入射させ、
前記回転翼により光量が減じられた前記光を用いて光学センサの温度依存性を校正する光学センサの校正方法。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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