テストデータ生成装置

開放特許情報番号:L2013000801 開放特許情報登録日:2013/5/17 最新更新日:2017/1/25

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2013/2/15
公開日
2014/8/28
出願人
国立研究開発法人産業技術総合研究所
特許権者
国立研究開発法人産業技術総合研究所
権利化状況
権利化済
発明の名称
テストデータ生成装置
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
機械・部品の製造 制御・ソフトウェア
適用製品
テストデータを生成する装置
目的
定められた論理構造にてパラメータを表現しなくとも、テストデータ生成ツールを使用することを可能とする。
効果
端末装置において、プログラムを用意しなくとも、テストデータを得ることができる。
また、平坦化されたパラメータデータを端末装置に送信するようにしてもよい。この場合、ユーザは、端末装置側のPICTなどのツールにこれを入力し、テストデータを得ることができる。
また、オールペア法などに基づくテストデータ生成プログラム(たとえば、マイクロソフト社のPICT)などを用いることができる。
技術概要
アンド・アンド階層平坦化手段4は、入力されたパラメータデータ20の論理構造中において、対象ノードから、AND関係とAND関係が階層として連続している部分を見いだし、条件を付け替えるとともに、対象子ノードTaを削除する。オア・オア階層平坦化手段6は、アンド・アンド階層平坦化パラメータデータ22の論理構造中において、対象ノードから、OR関係とOR関係が階層として連続している部分を見いだし、条件を付け替えるとともに、対象子ノードISRを削除する。持上平坦化手段8は、対象ノードTaからAND関係とOR関係が下位階層として連続し、さらに、対象ノードからOR関係とAND関係が上位階層として連続している部分34を見いだし、条件を付け替えるとともに、平坦化を行う。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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