適用製品
参照リーク発生装置およびその参照リーク発生装置を用いた超微小リーク試験装置
目的
外挿値ではなく、実際に、１０↑（-11）Ｐａｍ↑3／ｓ以下の参照リークを発生する参照リーク発生装置を提供するとともに、その参照リーク発生装置を用いて、現場で、リーク試験装置の測定室に参照リークを導入して、リークを検出する分圧真空計(質量分析計)を校正することで、信頼性が高い超微小リーク試験装置を提供する。
効果
外挿値ではなく、実際に、１０↑（-11）Ｐａｍ↑3／ｓ以下の参照リークを現場で発生することができ、また、本発明の超微小リーク試験装置によれば、現場で、参照リークをリーク試験装置に導入して、測定できることを確認しながら試験でき、信頼性が高い。
また、１点校正ではなく、多点校正が可能なので、リーク量を計測する分圧真空計(質量分析計)の線形性(直線性)を確認できる。
技術概要
測定室の上流側に接続するための参照リーク発生装置であって、
開閉可能な第１バルブを介して試験ガスを導入可能な容積Ｖ↓０の第１室と、開閉可能な第２バルブを介して前記第１室と接続された容積Ｖ↓１の第２室と、前記第１室に接続された圧力計と、前記第２室に接続された真空ポンプと、前記第２室に接続されたオリフィス又は多孔質体とを備え、前記第２バルブを開くことにより前記第１室の試験ガスの容積をＶ↓０からＶ↓０＋Ｖ↓１に膨張させることができるように構成し、前記第２室が前記オリフィス又は多孔質体を介して前記測定室の上流側に接続可能となっていることを特徴とする参照リーク発生装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
