目的
化学反応炉や反応装置内の物質の状態を、専用のセンサーを用いることなく非接触で簡便かつ安全に検出する方法を提供する。
効果
化学反応炉や反応装置内の物質の状態（温度、相状態、組成、異物や気泡の有無、それらの変化及び化学反応の進行）を、専用のセンサーを用いることなく非接触で簡便かつ安全に検出することができる。
技術概要
マイクロ波を照射することにより、被照射物質の温度、相状態、組成、異物や気泡の有無、それらの変化又は化学変化の進行を測定、検出する方法であって、前記物質にマイクロ波を照射し、マイクロ波の照射前後の変化から、被照射物質の状態を測定、検出する方法。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
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