機能
制御・ソフトウェア
機械・部品の製造
安全・福祉対策
目的
この発明は、意図しないビームの取り出しを抑制できる３次元スキャニング照射が実現できる装置を提供する。
効果
この発明によれば、意図しないビームの取り出しを抑制できる粒子線照射装置および粒子線制御方法を実現できる。
技術概要
放射線でがんの治療を行う場合、炭素、ネオン等の重粒子線をがんを患う患者の患部に照射した際、如何にゆらぎ小さく一定の線量を患者に照射するかが必要とされる。そのため、患者の患部に照射する重粒子線を線量計で測定し、この線量信号を一定に保つように、フィードバック制御が行われている。しかし、重粒子線が集中する狭いペンシルビームを用いるスキャニング照射では、意図しないビームの線量が大きいため、問題となっていた。この発明の粒子線照射装置は、加速器５内で加速され加速器５内の軌道を進む荷電粒子ビームに、このビームを挟んで配置されるＲＦ−ＫＯ電極１２により、ＲＦ−ＫＯ電圧による電場を印加して荷電粒子ビームの幅を広げて荷電粒子ビームの一部をデフレクタ電極１３を介して加速器５内から取り出す粒子線照射装置１であって、ＲＦ−ＫＯ電極１２により、軌道振幅が大きくＲＦ−ＫＯ電圧をオフした場合に加速器５内から取り出される可能性が高い荷電粒子ビームの振動数に共振する高周波電場を荷電粒子ビームに印加する制御を行うビーム選択取出し制御部Ｓ１を備えたものである。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
