目的
構造の非常に簡単な物質検出プレートを使用し、かつ信号の校正をする必要なしに、溶液中の複数の被検出物質の有無を検出、かつ定量的に評価する装置を提供する。
効果
物質検出プレートにパルスレーザー光を照射することで、照射位置における被検出物質の量に依存する振幅強度を持ったパルス電磁波を発生させ、その振幅強度を計測することで、被検出物質の有無を検出する定性的な評価や、定量的な評価ができる。したがって、物質検出プレートは、被検出物質ごとに電極を作製する必要がなく、安価で構造が非常に簡単である。
技術概要
物質検出装置１は、半導体上に物質感応膜を作製した物質検出プレート５と、被検出物質を含む溶液を物質感応膜の表面へ接触させる手段（溶液セル６）と、溶液の電位を安定させる手段（参照電極３１（図２））と、物質検出プレート５にパルスレーザー光を照射することで、照射位置における被検出物質の量に依存する振幅強度を持ったパルス電磁波を発生させる手段（パルスレーザー光源２）と、パルス電磁波の振幅強度を計測する手段（検出・変換装置４）と、振幅強度より、被検出物質の有無を判定する手段（制御・解析装置８）を備える。照射装置は、走査台７、パルスレーザー光源２、及び、集光装置３からなり、物質検出プレート５の特定の位置に所定の波長を有するパルスレーザー光９を照射する機能を有する。検出・変換装置４は、例えば、電磁波検出ボローメーター、又は、半導体光スイッチであり、パルスレーザー光９の照射位置から放射されるパルス電磁波１０を検出して、電磁波の電場振幅の時間波形に対応した時間的に変化する電圧信号に変換するものである。
改善効果１
パルスレーザー照射位置より発生するパルス電磁波を計測するために、物質検出プレート上のどの位置について計測を行う場合であっても、ＬＡＰＳのように校正を行うことなしに、高精度かつ定量的な計測が可能である。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
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