粒子特性計測装置および粒子特性計測方法

開放特許情報番号:L2008000965 開放特許情報登録日:2008/2/22 最新更新日:2010/2/5

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2006/6/2
公開日
2007/12/13
出願人
国立大学法人 筑波大学
特許権者
国立大学法人 筑波大学
権利化状況
権利化済
発明の名称
粒子特性計測装置および粒子特性計測方法
開放特許情報
技術分野
化学・薬品
機能
検査・検出
適用製品
粒子特性計測装置
目的
粒子径とゼータ電位を一度に測定するまた、ゼータ電位を精確に測定する装置及び方法を提供する。
効果
粒子径とゼータ電位を一度に測定することができる。また、ゼータ電位を精確に測定することができる。
技術概要
溶媒中に分散したブラウン運動を行う粒子を含む液体試料が収容された試料室16aと、試料室16a内に配置された一対の電極17と、一対の電極17間に電界を発生させる電界発生回路12と、電界中を電気泳動する粒子の移動を計測する粒子移動計測手段P13aと、電気泳動する粒子のブラウン運動による移動量に基づいて粒子径を検出する粒子径検出手段P13bと、粒子の電気泳動による電気泳動移動度と粒子径とに基づいて、ゼータ電位を検出するゼータ電位検出手段P13cと、を備えた粒子特性計測装置である(D0)。粒子特性計測装置は、粒子径検出手段により、粒子のブラウン運動によるブラウン運動平均自乗距離に関するアインシュタインの関係式と、ストークス−アインシュタインの式とに基づいて、粒子の粒子径を演算して検出できる。ゼータ電位検出手段は、粒子径と、前記電気泳動移動度と、ゼータ電位、粒子径および電気泳動移動度に関するヘンリーの式とに基づいて、ゼータ電位を検出する。図1は、全体説明図である。図2は、試料ホルダ部分の要部説明図である。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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