機能
機械・部品の製造
制御・ソフトウェア
検査・検出
適用製品
姿勢パラメータ推定装置、姿勢パラメータ推定システム、姿勢パラメータ推定方法、およびプログラム
目的
追跡可能な特徴点の数が減少してしまっても、処理負荷を増加させることなく、姿勢パラメータの推定精度の低下を抑制すること。
効果
処理負荷を増加させることなく、姿勢パラメータの推定精度の低下を抑制することができる。
技術概要
入力画像内の認識対象物の姿勢パラメータを推定する姿勢パラメータ推定装置であって、
予め定められた２種類以上の特徴点群の中から特徴点を追跡用特徴点として選択する特徴点選択手段と、
前記特徴点選択手段により選択された追跡用特徴点を追跡する特徴点追跡手段と、
前記特徴点追跡手段による追跡結果に基づいて、前記認識対象物の姿勢パラメータを求める姿勢パラメータ更新手段と、を備え、
前記特徴点選択手段は、前記２種類以上の特徴点群のうち第１の特徴点群の中から前記追跡用特徴点として選択した特徴点の中に、前記入力画像に存在していない特徴点が存在すれば、当該追跡用特徴点から当該特徴点を除外するとともに、除外した特徴点の数だけ、前記２種類以上の特徴点群のうち前記第１の特徴点群を除くものの中から特徴点を選択して当該追跡用特徴点に追加する際に、当該追跡用特徴点として選択されている他の特徴点までの距離が大きいものから順に選択することを特徴とする姿勢パラメータ推定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
