| 出願番号 |
特願2005-224735 |
| 出願日 |
2005/8/2 |
| 出願人 |
国立大学法人北海道大学 |
| 公開番号 |
特開2007-040807 |
| 公開日 |
2007/2/15 |
| 登録番号 |
特許第4621916号 |
| 特許権者 |
国立大学法人北海道大学 |
| 発明の名称 |
動的階層構造の解析方法とその装置 |
| 技術分野 |
生活・文化 |
| 機能 |
機械・部品の製造、検査・検出 |
| 適用製品 |
動的階層構造の解析装置 |
| 目的 |
従来のソフトマテリアル、たとえば高分子ゲル等の複雑系物質の動的構造（動的感受率）の解析のための周波数依存誘電感受率の測定方法の問題点を解消し、従来のような電極接着の影響を受けることなく、物質起源の高振動数領域での高い感度をもって広い範囲で複雑系の動的構造を解析することのできる新しい手段を提供する。 |
| 効果 |
可視光をプローブとして非接触で、不均一複雑系物質の動的構造を広いダイナミックレンジで階層性として解析可能となる。 |
技術概要
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この方法では、可視光による光散乱分光法と時間分解分光法とを併用して不均一複雑系物質の熱ゆらぎのスペクトルをそれぞれ観測し、得られたスペクトルデータに対して、特定のモデルを適用し、各緩和過程が有する緩和時間を求めることにより、不均一複雑系物質の動的階層構造を静電動的感受率の振動数依存性として解析する。また、動的階層構造の解析装置の概念図を図１に模式的に示す。さらに、動的階層構造の解析装置の機能ブロック図を図２に示す。図２では、図１の解析装置から試料セル、時間分解分光部、光散乱分光部を除いた処理装置１０を示し、この処理装置１０は、図１の時間分解分光部、光散乱分光部からのスペクトル観測データ等を入力する入力部１１と、各種演算処理解析処理を行う処理部１２と、制御プログラムが格納された主記憶装置であるメモリ１３と、各種データを記憶するＨＤＤ装置等の記憶部１４と、解析したデータを出力あるいは表示する出力部１５を備える。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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